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Talos F200X

Talos F200X

TEM Active

Thermo Fisher Scientific — Talos F200X

Versatile S/TEM for high-throughput EDS mapping and tomography with Super-X detector. Super-X 검출기를 탑재하여 고속 EDS 매핑과 토모그래피를 수행하는 다목적 S/TEM입니다.
Voltage 80/200 kV
Gun X-FEG
Monochromator N/A
Pole-piece X-twin (5.4 mm)
EDS Super-X (0.7 sr)
Camera TFS Ceta 16M CMOS
STEM 8 Segmented
Capability (S)TEM/EDS tomography
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Overview

The Thermo Fisher Scientific Talos F200X is a versatile S/TEM designed for high-throughput analytical electron microscopy. Equipped with a Super-X EDS detector, it excels at elemental mapping and compositional analysis, and supports both imaging and tomographic reconstruction workflows.

Key Features

  • Super-X EDS detector (0.7 sr): Large solid-angle windowless EDS for rapid, high-sensitivity elemental mapping
  • X-FEG electron source: High-brightness field-emission gun for excellent probe current and stability
  • 8-segment STEM detector: Flexible bright-field, dark-field, and annular dark-field imaging
  • Ceta 16M CMOS camera: Large-format camera for TEM imaging and diffraction
  • (S)TEM/EDS tomography: 3D compositional analysis through tilt-series acquisition and reconstruction

Applications

  • High-throughput EDS elemental mapping of multi-phase materials
  • 3D compositional analysis via STEM-EDS tomography
  • Microstructural characterization of metals, ceramics, and composites
  • Nanoparticle size, morphology, and composition analysis

개요

Thermo Fisher Scientific Talos F200X는 고속 분석 전자현미경 관찰을 위해 설계된 다목적 S/TEM입니다. Super-X EDS 검출기를 탑재하여 원소 매핑과 조성 분석에 탁월하며, 이미징과 토모그래피 재구성 워크플로우를 모두 지원합니다.

주요 특징

  • Super-X EDS 검출기 (0.7 sr): 대입체각 windowless EDS로 빠르고 고감도의 원소 매핑 가능
  • X-FEG 전자원: 고휘도 전계방출 전자총으로 우수한 프로브 전류와 안정성 제공
  • 8-분할 STEM 검출기: bright-field, dark-field, annular dark-field 이미징을 유연하게 지원
  • Ceta 16M CMOS 카메라: TEM 이미징 및 회절 측정을 위한 대면적 카메라
  • (S)TEM/EDS tomography: 틸트 시리즈 취득 및 재구성을 통한 3D 조성 분석

응용 분야

  • 다상 소재의 고속 EDS 원소 매핑
  • STEM-EDS tomography를 이용한 3D 조성 분석
  • 금속, 세라믹, 복합재의 미세구조 분석
  • 나노입자의 크기, 형상, 조성 분석