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Spectra Ultra

Spectra Ultra

TEM Installing

Thermo Fisher Scientific — Spectra Ultra

Next-generation double Cs-corrected S/TEM with X-FEG-Ultimono source, featuring sub-ångström resolution and ultra-high energy resolution EELS for advanced materials characterization. X-FEG-Ultimono 전자원을 탑재한 차세대 이중 Cs-보정 S/TEM으로, sub-ångström 분해능과 초고에너지분해능 EELS를 통해 첨단 소재의 정밀 분석이 가능합니다.
Voltage 30/60/200/300 kV
Gun X-FEG
Monochromator Ultimono (0.025 eV)
Pole-piece S-twin Prime (5.4 mm)
Correction TEM (CETCOR) + STEM (S-CORR)
TEM Resolution 60 pm
STEM Resolution 50 pm
EELS Resolution 0.025 eV
EDS UltraX (4.04 srad)
STEM Detector 16-segment (Panther)
Tilt ±35°/±35°
Installed 2025–2026 (under installation)
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Overview

The Thermo Fisher Scientific Spectra Ultra is a state-of-the-art double aberration-corrected S/TEM equipped with an X-FEG-Ultimono electron source. It delivers 60 pm TEM imaging resolution, 50 pm STEM resolution, and an unprecedented 0.025 eV energy resolution for EELS — enabling atomic-scale imaging and spectroscopy of the most challenging materials.

Key Features

  • Double Cs-correction: Both TEM (CETCOR) and STEM (S-CORR) aberration correctors for sub-ångström imaging in all modes
  • X-FEG-Ultimono source: Ultra-high brightness with monochromated energy spread of 0.025 eV
  • Panther 16-segment STEM detector: Advanced segmented detector for differential phase contrast (DPC) and integrated DPC (iDPC) imaging
  • UltraX EDS (4.04 srad): Next-generation EDS geometry for high-throughput elemental mapping
  • Multi-voltage operation: Flexible acceleration voltage from 30 kV to 300 kV for beam-sensitive and bulk materials

Applications

  • High-resolution imaging and EELS of energy storage materials
  • Atomic-resolution EDS/EELS mapping of interfaces and defects
  • Low-voltage imaging of beam-sensitive materials (polymers, solid electrolytes)
  • 4D-STEM and differential phase contrast imaging

개요

Thermo Fisher Scientific Spectra Ultra는 X-FEG-Ultimono 전자원을 탑재한 최신 이중 수차보정 S/TEM입니다. 60 pm TEM 이미징 분해능, 50 pm STEM 분해능, 그리고 0.025 eV의 초고에너지분해능 EELS를 제공하여, 가장 까다로운 소재에 대한 원자 스케일 이미징과 분광분석을 가능하게 합니다.

주요 특징

  • 이중 Cs-보정: TEM (CETCOR)과 STEM (S-CORR) 수차보정기를 모두 탑재하여 모든 모드에서 sub-ångström 이미징 가능
  • X-FEG-Ultimono 전자원: 0.025 eV의 단색화 에너지 폭을 갖춘 초고휘도 전자원
  • Panther 16-분할 STEM 검출기: DPC (differential phase contrast) 및 iDPC (integrated DPC) 이미징을 위한 고성능 분할 검출기
  • UltraX EDS (4.04 srad): 차세대 EDS 기하 구조로 고속 원소 매핑 가능
  • 다중 가속전압 운용: 30 kV~300 kV 유연한 가속전압 설정으로 전자빔 민감 시료 및 벌크 시료 모두 분석 가능

응용 분야

  • 에너지 저장 소재의 고분해능 이미징 및 EELS 분석
  • 계면 및 결함의 원자 분해능 EDS/EELS 매핑
  • 전자빔 민감 시료(고분자, 고체 전해질)의 저전압 이미징
  • 4D-STEM 및 differential phase contrast 이미징